Der Thin[gk]athon, veranstaltet vom Smart Systems Hub, vereint kollaborative Intelligenz und Industrie-Expertise, um in einem dreitägigen Hackathon innovative Lösungsansätze für komplexe Fragestellungen zu generieren.
Ein Beispiel dafür war der mit ZEISS Digital Innovation durchgeführte Thin[gk]athon. Hier stand die Präzisionsmesstechnik innerhalb anspruchsvoller Fertigungsumgebungen im Fokus. Erforscht werden sollte, wie den Auswirkungen schwankender Umwelteinflüsse auf die Qualitätssicherung im IIoT-Umfeld entgegengewirkt werden kann, um Fehlinterpretationen in der Fertigungsindustrie zu verringern. ZEISS Digital Innovation stellte die benötigten Testaufbauten für die Teilnehmenden, die sie für die Datensammlung und die Verprobung nutzen konnten.
Das Feedback des Challenge Owners zeugt von der Wirksamkeit dieses Formats, wie Dr. Christian Hörr, Principal Expert Advanced Manufacturing bei ZEISS Digital Innovation, betont: „Die interdisziplinäre Zusammenarbeit und das explorative Vorgehen förderten nicht nur kreatives Denken, sondern ermöglichten es auch, die Grenzen etablierter Technologien auszuloten und mit Hilfe digitaler Ansätze zu überwinden. Der Austausch mit Experten aus Wirtschaft und Wissenschaft half konzeptionelle Lücken zu schließen“.
Die Teilnahme am Thin[gk]athon bot ZEISS Digital Innovation die Möglichkeit, theoretische Annahmen in einem nahezu realen Umfeld zu testen. Die Ergebnisse bestätigten die Stoßrichtung ihrer Strategie und lieferten Ansätze für die Weiterentwicklung ihrer digitalen Lösungen.
